根據(jù)庫(kù)侖電解法同時(shí)測(cè)量涂層厚度和電位差：

1、Fischer菲希爾Couloscope CMS測(cè)厚儀( 庫(kù)侖測(cè)量系統(tǒng))使用庫(kù)侖方法測(cè)量鍍層厚度。配備了一一個(gè)大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統(tǒng),該儀器理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測(cè)試方法的場(chǎng)合。

2、Fischer菲希爾Couloscope CMS測(cè)厚儀準(zhǔn)確地測(cè)量范圍在0.05- 40 μm ( 0.002 - 1.6 mils )之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲(chǔ)上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用,從單鍍層,例如鋅在鋼上,直至三鍍層,例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。

3、Couloscope CMS STEP用來(lái)測(cè)定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個(gè)單個(gè)的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。在電鍍工業(yè)中,對(duì)多層鎳的測(cè)量變得越來(lái)越重要了,雙層鎳的測(cè)量已成為-種標(biāo)準(zhǔn)的操作。