MiniTest 400A超聲測厚儀

型號

晶體直徑

頻率

測量范圍

工作溫度

簡介

EP8E

8MM

5.0MHZ

3-25MM(E-E)

0.8-300MM(T-E)

-12～+60℃

400B標(biāo)配探頭，400B*探頭，具有透過涂層測量模式。zui小測量管外徑20mm

EP4

4MM

10.0MHZ

0.65-20MM

-12～+60℃

小管徑探頭。zui小測量管外徑10mm

EP6

6MM

7.5MHZ

0.65-50MM

-12～+60℃

主要用于薄壁及小弧面的測量. zui小測量管外徑15mm

EP8

8MM

5.0MHZ

0.8-350MM

-12～+60℃

400,400A標(biāo)配探頭，主要用于測量表面為平面或者較大弧度的材料。zui小測量管外徑20mm

ECP12

12MM

2.0MHZ

2.0-500MM

-12～+60℃

粗晶探頭，主要用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測量。zui小測量管外徑30mm

EHP13

13MM

5.0MHZ

3.0-200MM

-12～+350℃

高溫探頭，主要用于測量溫度小于350℃的材料的測量，

注：測量時晶體與被測高溫物體的接觸時間不得大于5S。zui小測量管外徑25mm

項目

參數(shù)

400

400A

400B

零位校準(zhǔn)

開機自動零位校準(zhǔn)

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測量參數(shù)

發(fā)射－回波模式，量程0.65-500mm

標(biāo)準(zhǔn)測量：滿足常用的檢測要求

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zui小值測量：滿足曲面或需要選擇zui小值的測量環(huán)境

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差分測量：顯示實際測量值與設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)值的差值

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平均測量：提供2-9點的測量平均值

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上下限測量：極限報警

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回波－回波模式，量程3-25mm

透過涂層測量基體厚度

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快速掃查模式

適用于高溫或需要提高測量速度的測量環(huán)境，每秒10次的測量，可以同時顯示測量中的zui大值和zui小值

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數(shù)據(jù)存儲

10組5000個數(shù)據(jù)，動態(tài)分配

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數(shù)據(jù)輸出

USB接口，通過USB接口上傳儀器中存儲的數(shù)據(jù)到計算機

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顯示信息

測量值，聲速值，探頭型號，電池電量，當(dāng)前數(shù)據(jù)組

示值精度

小于99.99mm時為0.01mm;大于100mm時為0.1mm

單位

公制/英制

聲速范圍

1000m/s - 9999m/s

增益

自動；手動可調(diào)

聲速測量

確定未知聲速材料的聲速，預(yù)置9種常用材料聲速值

探頭識別

自動識別探頭

關(guān)機選擇

可選擇2分鐘，5分鐘自動關(guān)機或選擇不自動關(guān)機

外形尺寸

130 × 73 × 24 mm(L×W×H)

重量

約190g

工作溫度

-20至50攝氏度

電池

兩節(jié)5號電池，電量顯示，電量不足報警

工作時間

不間斷測量不少于80小時

顯示屏

128×64 背光